本市國民小學一般智能資賦優異學生鑑定安置(以下簡稱鑑定)初選報名資格定期評量採計調整案
本市國民小學一般智能資賦優異學生鑑定安置(以下簡稱鑑定)初選報名資格定期評量採計調整案
發佈日期 :
2025-06-09
最後更新日期 :
2025-06-09
資訊群組 :
輔導室
發佈者 :
紀輔導主任
主旨:有關本市國民小學一般智能資賦優異學生鑑定安置(以下簡稱鑑定)初選報名資格定期評量採計調整案,請各校確實將調整後資訊轉知校內一年級及三年級學生暨相關人員,詳如說明事項,請查照。
說明:
一、 依據本市特殊教育學生鑑定及就學輔導會決議辦理。
二、 旨案鑑定初選報名資格採計之定期評量範圍,調整如下:
(一) 二升三年級(甲組):採計一年級下學期最後1次暨二年級上學期第1次,由學校舉辦之國語文、數學定期評量成績。
(二) 四升五年級(乙組):採計三年級下學期最後1次暨四年級上學期第1次,由學校舉辦之國語文、數學及自然科學定期評量成績。
三、 請各校務必將上開資訊轉知113學年度校內一年級及三年級學生暨相關人員,並依鑑定簡章規定審核學生初選報名資格,且協助符合資格且有意願參加鑑定之學生辦理後續報名事宜。
說明:
一、 依據本市特殊教育學生鑑定及就學輔導會決議辦理。
二、 旨案鑑定初選報名資格採計之定期評量範圍,調整如下:
(一) 二升三年級(甲組):採計一年級下學期最後1次暨二年級上學期第1次,由學校舉辦之國語文、數學定期評量成績。
(二) 四升五年級(乙組):採計三年級下學期最後1次暨四年級上學期第1次,由學校舉辦之國語文、數學及自然科學定期評量成績。
三、 請各校務必將上開資訊轉知113學年度校內一年級及三年級學生暨相關人員,並依鑑定簡章規定審核學生初選報名資格,且協助符合資格且有意願參加鑑定之學生辦理後續報名事宜。
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